我相信每個光纖制造公司都應該建立自己的測試線。當然，這些測試線必須提供準確，可重復的插入損耗（IL）測試結果。
本文(wen)提供了指導(dao)，以自信地構(gou)建和使用符(fu)合(he)EF標準的“模態透明(ming)”測試線（也稱為參考線和發射線）。
如何建立自己(ji)的(de)模(mo)態透明(ming)多模(mo)測試引線簡而言之(zhi)，為什么(me)“ EF遵從性”很重要？如今，大多(duo)數(shu)多(duo)模測(ce)試(shi)系統的(de)(de)設計和制造都是為了確保符合EF標準(zhun)的(de)(de)光輸出。IEC發(fa)起了EF-Compliance標準(zhun)，以促進(jin)標準(zhun)的(de)(de)多(duo)模測(ce)試(shi)啟動條件，從而獲得一(yi)致的(de)(de)，可重復的(de)(de)插入(ru)損耗測(ce)試(shi)結果。
符合EF的(de)發(fa)射條件減少了“過(guo)滿”和(he)“未(wei)滿”發(fa)射條件的(de)發(fa)生，這(zhe)兩種情(qing)況都會(hui)導致IL測試結果不(bu)準確：
發(fa)射過量的(de)(de)(de)(de)條(tiao)件(jian)–在發(fa)射過量的(de)(de)(de)(de)條(tiao)件(jian)下，離開測試(shi)導線(xian)的(de)(de)(de)(de)光(guang)功率(lv)會以(yi)較(jiao)大(da)的(de)(de)(de)(de)“斑點尺(chi)寸”散(san)布-可能大(da)于光(guang)纖(xian)纖(xian)芯的(de)(de)(de)(de)尺(chi)寸。當連接(jie)到(dao)被測設備（DUT）時，即使(shi)接(jie)收(shou)連接(jie)的(de)(de)(de)(de)質量很(hen)好，該(gai)點外徑上的(de)(de)(de)(de)大(da)量光(guang)功率(lv)也不會耦合到(dao)接(jie)收(shou)光(guang)纖(xian)的(de)(de)(de)(de)纖(xian)芯中(zhong)。結果(guo)增加(jia)了（錯(cuo)誤地很(hen)差）插入損耗測試(shi)結果(guo)。
欠填(tian)充(chong)的(de)(de)發射(she)條(tiao)件–相反，在欠填(tian)充(chong)的(de)(de)發射(she)條(tiao)件下，光(guang)功率以集(ji)中(zhong)在磁芯中(zhong)心的(de)(de)小(xiao)的(de)(de)“斑點大小(xiao)”從測試(shi)導(dao)線(xian)中(zhong)退出(chu)。連(lian)接到DUT時，即使兩個(ge)纖芯嚴重錯(cuo)位(wei)，大多數(shu)光(guang)也很(hen)容易耦合到接收光(guang)纖的(de)(de)纖芯中(zhong)。結果是(shi)錯(cuo)誤的(de)(de)良好(hao)插(cha)入損耗測試(shi)結果。
請記住，客戶的傳輸設備的發射條件未知，并且會有所不同，具體取決于光源（激光或LED）的類型和光源制造商。符合EF標準的目的不是要標準化最終用戶傳輸設備的啟動條件，而是要標準化光纜組件制造商的測試設備，以便可以將所有光纖制造公司的測試結果“一分為二”。
很有可能(neng)，您不(bu)會在整(zheng)個測試設置中都(dou)保持EF-Compliance。原因如(ru)下：
許多光纖制造公司因不(bu)了解僅使用符(fu)合(he)(he)EF的(de)(de)光(guang)源而(er)不(bu)足以(yi)確保從(cong)測(ce)試導線發出的(de)(de)光(guang)仍然(ran)符(fu)合(he)(he)EF的(de)(de)規定(ding)(ding)而(er)出錯。的(de)(de)EF兼容光(guang)源確保光(guang)離(li)開所述源具有(you)受控的(de)(de)和特定(ding)(ding)的(de)(de)模式條(tiao)件。制造(zao)商有(you)責任確保您(nin)的(de)(de)測(ce)試線由高質量的(de)(de)連接器(qi)和光(guang)纖構成，以(yi)保持符(fu)合(he)(he)要求的(de)(de)模態條(tiao)件。
將劣質的(de)(de)(de)測試(shi)導(dao)線（或(huo)測試(shi)系統中的(de)(de)(de)開關(guan)或(huo)任何其他組件）連接到(dao)光源，可(ke)能會極(ji)大(da)地改變光源的(de)(de)(de)模(mo)態條(tiao)件，即使光源本身確實符合(he)EF。現在，從測試(shi)線發(fa)出的(de)(de)(de)光不(bu)再受到(dao)控制，可(ke)能不(bu)符合(he)EF標準。
您(nin)如何維持EF-Compliance？
確保在整個測(ce)(ce)試過(guo)程中(zhong)保持EF-Compliance的最(zui)佳(jia)方法是確保測(ce)(ce)試系統光路內(nei)的所有光纖(xian)(xian)（開(kai)關，測(ce)(ce)試導(dao)線等）盡可(ke)能“模態(tai)透明”。也就是說，應將整個光路中(zhong)的光纖(xian)(xian)和(he)連接設計為對改變光輸入的模態(tai)條件影響最(zui)小(xiao)。
通常，光纜組裝生產商會使用低成本/低質量的光纖和連接器來構建自己的多模測試線，而無需考慮這些因素如何影響輸出模態條件。理想情況下，您可以使用市售的EF表直接測量測試導線輸出的EF-Compliance。但是，實際情況是，很少有光纖制造公司在此設備上進行投資。這是相對昂貴的，制造商傾向于將多模組件視為光纜組件的“低級”，而不應關注“高級”單模組件所需的測試細節。但是，即使沒有專用的EF測量儀，也不難構建能夠高度自信地維護EF-Compliance的測試導線。
要構(gou)建“模態透明”多模測(ce)試線以幫助(zhu)維持(chi)符合EF標準的測(ce)試光源的模態條件，您應該：
使用可用的最(zui)高(gao)質量的光纖(xian)，并按照行業標準進行拋(pao)光–大多數主要的光纖制造公司都提供高質量(liang)的計量(liang)級多模光纖(xian)。詢(xun)問您的光纖(xian)供應(ying)商；他們應(ying)該(gai)熟悉這種纖(xian)維。
用高質量的連接器端接這些光纖–我建議在所有多模測試導線上使用優質的單模(mo)光纖連接(jie)器。這些將具有足夠的套圈孔同心度和孔內徑公差。使用具有高同心度/低直徑套圈孔的連接器。這一點很重要，不僅在用于測試的測試導線的末端，而且對于將要連接到光源的測試導線的末端，也很重要。如果那兩個光纖芯未正確對準，則模態條件將發生改變。
拋光密(mi)封墊圈(quan)，使其符合標準的(de)單模(mo)端面幾何形狀和外觀檢(jian)查(cha)標準–這有(you)助于確保所(suo)有(you)連(lian)接器配合中的(de)最佳(jia)芯對(dui)芯接觸。
底線
您可(ke)以建立(li)并(bing)放心使(shi)用自己的“模(mo)態透明”多模(mo)測試(shi)線，以充分維持來自EF兼容光源的輸入(ru)光的模(mo)態條件(jian)。這(zhe)將為您提供更準確，可(ke)重復的IL測試(shi)結(jie)果(guo)！
