我經常聽到客戶抱怨，盡管在其光纜組件生產過程中沒有發生任何變化，但其產品的實測插入損耗（IL）和回波損耗（RL）值卻不如以前。測量設備有問題嗎？好吧，這是可能的，但可能性很小。
顯(xian)然情況已(yi)經改變。如果不(bu)(bu)是測(ce)量(liang)設備，則必(bi)須(xu)是產(chan)品或測(ce)量(liang)設置。隨著(zhu)時間的(de)(de)流逝，生(sheng)產(chan)過程可(ke)能(neng)會(hui)變成熟悉的(de)(de)，可(ke)能(neng)很無聊的(de)(de)例行(xing)程序。操作(zuo)員在清(qing)潔上可(ke)能(neng)會(hui)變得(de)一(yi)絲不(bu)(bu)茍，使用(yong)拋光膜的(de)(de)時間可(ke)能(neng)超過適當的(de)(de)時間，甚至采取(qu)捷(jie)徑。最(zui)終，這會(hui)造成巨大(da)的(de)(de)損失，并使產(chan)量(liang)下降(jiang)。
假設您已經通過徹底清理程序并將其重置為嚴格的生產準則來消除了這種可能性。但是問題仍然存在。在這一階段，“黃金標準”產品是有用的–仔細保存您以前生產的最佳產品的“已知”示例，并記錄了非常好的IL和RL值。使用您當前的嚴格程序，重新測量此金標準產品。它仍然應該看起來不錯。
我(wo)寫過，不(bu)能單獨對產品(pin)進行IL和RL測(ce)(ce)試。（請在此處閱讀(du)有關此主題的(de)更多信息。）請記(ji)住，我(wo)們正在測(ce)(ce)量光(guang)纖連接(jie)器(qi)損耗，并且被測(ce)(ce)設(she)備(bei)（DUT）需要連接(jie)到測(ce)(ce)試光(guang)纜(lan)（也稱為跨接(jie)光纜，參考光纜或(huo)測(ce)試線(xian)）。重要(yao)的是要(yao)注意，測(ce)試光纜(lan)的(de)質量和(he)狀況直接關系到被測產品的(de)IL和(he)RL測量值(zhi)。
評估(gu)測試光纜的(de)質(zhi)量和狀況
首(shou)先，確保測(ce)試(shi)光纖連(lian)接(jie)器(qi)清潔。接(jie)下來(lai)，仔細檢(jian)查(cha)以確(que)保它(ta)們處于良(liang)好狀態(tai)。請記住，光纖(xian)連(lian)接(jie)器(qi)和(he)連(lian)接(jie)套(tao)筒都不會(hui)永遠持續(xu)下去。它(ta)們會(hui)隨(sui)著使(shi)用(yong)而降解，而不僅(jin)僅(jin)是劃(hua)痕(hen)和(he)凹(ao)痕(hen)。滑(hua)動表面磨(mo)損。隨(sui)著配(pei)合變得松散，對(dui)齊將受到(dao)影(ying)響(xiang)。
在更(geng)換測(ce)試連接器(qi)之(zhi)前，可以進行幾次配(pei)合？有一(yi)個確切(qie)的(de)數(shu)字可以使用。但是，由(you)于連接器(qi)的(de)類型和質量(liang)以及操作員的(de)技能，很難給出確切(qie)的(de)答案(an)。
假設更換所有測試光纜和耦合器，將使您的金標準產品恢(hui)復到(dao)以前的良好(hao)測量(liang)值。這是有用的信息。花(hua)一分鐘時間確定這些特定的測試光纜大約進行了多少次(ci)配合。你是幾號(hao)到達的(de)？現在您知道多少聯軸器太多了！
確定使(shi)用限制(zhi)并(bing)確定更換(huan)時間(jian)表
我建議您將使用限(xian)制設置為上述數字的一半。權衡持(chi)續的更(geng)換成本和更(geng)換測試光纜所(suo)需的時間。如(ru)(ru)果讓產品進(jin)入故(gu)障階(jie)段，這與成本相比(bi)如(ru)(ru)何？
經常監(jian)視(shi)金標準設(she)備的機制可能(neng)有助(zhu)于確(que)定測試光纜的使用限制。（不要過(guo)于頻(pin)繁地進(jin)行(xing)此操作，否則您的金標準光(guang)纜會退化。）這種監視方式將幫(bang)助您制定(ding)合理的更換時間表(biao)。
這(zhe)是一(yi)個(ge)有用的提示：如(ru)果您使用Viavi MAP / PCT系統，它可以跟蹤(zong)測量跳線的使用情(qing)況，并在光纜超過(guo)用戶定(ding)義的限制時(shi)發出警告。如果您(nin)使用其他測試(shi)儀器，建議您(nin)檢查一下它是否可以跟蹤使用情(qing)況，并提供此類(lei)警告。
實施強(qiang)大的過(guo)程控(kong)制
測試光纜的(de)使用壽命確實有限。而且壽命會有所不同(tong)。例如，不正(zheng)確的(de)配合或清潔會潛在地(di)損壞測試光纜(lan)的(de)端(duan)面，從(cong)而使其無法使用。
實施(shi)強大的(de)過程控制將大大延長測試(shi)光纜(lan)的(de)壽(shou)命，并確定何時需要更換測(ce)試光纜。如上所述(shu)，我建議(yi)：
（1）經常檢查配合之間的測試(shi)光纜端面(mian)
（2）遵守良(liang)好的清潔習(xi)慣(guan)
（3）使(shi)用“知(zhi)名”光纜進行故障排(pai)除
如果您發現光纜組件的IL / RL結果降低，建議您首先建立嚴格的生產控制。接下來，請按照本文中的指南實施步驟，以評估測試光纜的(de)狀況，跟(gen)蹤使用情況并(bing)制定合理的(de)更換時間(jian)表。
