在標準的單模跳線中，用于插入損耗測試的兩個波長分別為1310nm和1550nm。所有單模光纖在任一波長下的工作情況都非常相似-也就是說，您無需根據波長購買光纖，一根光纖就可以適合所有波長。因此，如果您的光纖組件使用優質的材料和良好的技術正確構建，則在1310或1550上進行測試時，任何給定光纖連接器的插入損耗值都應該非常相似。
這導(dao)致一些(xie)生產(chan)(chan)商僅使用一個波(bo)(bo)長(chang)來測(ce)(ce)(ce)試(shi)其產(chan)(chan)品(pin)，僅在客(ke)戶特別需(xu)要(yao)時才測(ce)(ce)(ce)試(shi)兩個波(bo)(bo)長(chang)。在兩個波(bo)(bo)長(chang)下進行(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)都需(xu)要(yao)額(e)外的(de)設備(bei)，在某些(xie)情(qing)況(kuang)下似乎不過是“必要(yao)的(de)邪惡”。但是，使它成為在1310和(he)1550上(shang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)所有光纜組件的(de)標準做(zuo)法是有好處的(de)：1310nm和(he)1550nm測(ce)(ce)(ce)試(shi)波(bo)(bo)長(chang)之間的(de)插(cha)入(ru)損耗變化對于確定產(chan)(chan)品(pin)和(he)/或工藝的(de)嚴(yan)重問題非常有幫助(zhu)。
解決產品的任何單模插入損耗測試問題的一個有用技巧是(shi)記(ji)住(zhu)以(yi)下幾點：
（1）1310nm對對準問題(ti)更敏感(gan)
（2）1550nm對光(guang)纖彎曲問題更敏感
（3）1310和1550類似
如果制作得當，光(guang)纖組件(jian)將(jiang)在1310或1550上(shang)測試(shi)大致相同(tong)。1550插(cha)入(ru)損耗的結(jie)果通(tong)常(chang)要好百分(fen)之幾dB，這部(bu)分(fen)是由于其較低的光(guang)纖衰減。通(tong)常(chang)，連接器的插(cha)入(ru)損耗值在1550時比1310好的?0.01-0.05 dB。
（4）1310高于1550
A連(lian)接器或整(zheng)個(ge)產品(pin)設計，在1310時的(de)插入(ru)損耗(hao)明(ming)顯高于在1550時的(de)插入(ru)損耗(hao)，表明(ming)兩個(ge)配(pei)對(dui)的(de)插芯(xin)之間的(de)芯(xin)對(dui)芯(xin)對(dui)準(zhun)可(ke)(ke)能存在問題(ti)。差異可(ke)(ke)能很小，實際上是可(ke)(ke)以接受的(de)。失準(zhun)越大(da)，與1550相比，1310時的(de)插入(ru)損耗(hao)就越大(da)。失準(zhun)的(de)原因(yin)可(ke)(ke)能是由(you)于許多因(yin)素(su)引起的(de)，最常見的(de)原因(yin)可(ke)(ke)能是產品(pin)和測(ce)試組件受到污染(ran)，或者是光纖(xian)芯(xin)對(dui)金屬(shu)套圈(quan)的(de)同心度差。
希望(wang)可(ke)以消除污(wu)染，并(bing)且可(ke)以改進之(zhi)前的(de)制造過(guo)程以在(zai)測試之(zhi)前消除污(wu)染。但是(shi)，同心度(du)差通常是(shi)使用(yong)過(guo)大(da)的(de)密(mi)封墊圈造成(cheng)的(de)，因此(ci)(ci)，如果不更換連接器，則無法改善插(cha)入(ru)損(sun)耗。“相對尺寸過(guo)大(da)”是(shi)相對的(de)：套(tao)圈孔的(de)直徑大(da)于(yu)光(guang)纖(xian)外徑，則光(guang)纖(xian)最(zui)多能夠在(zai)套(tao)圈中心側坐下，因此(ci)(ci)預期的(de)插(cha)入(ru)損(sun)耗（1310）更大(da)。
（5）1550比1310高
一個(ge)連接器(qi)或整個(ge)產(chan)品設計，在1550時的插入損耗(hao)明顯(xian)比在1310時高(gao)，這表明光纖(xian)組件中(zhong)某處的光纖(xian)上可(ke)能(neng)存(cun)在應力點-最有可(ke)能(neng)是光纖(xian)彎(wan)(wan)曲超(chao)過工作彎(wan)(wan)曲半徑(jing)，或產(chan)品內(nei)某處的光纖“捏(nie)”或微彎(wan)。應力越(yue)高（彎(wan)曲越(yue)大(da)），與1310相比，在(zai)1550處的(de)插入損耗就(jiu)越(yue)高。但是，盡管上(shang)述(shu)纖芯偏移(yi)問題通(tong)常是原材料選(xuan)擇(ze)的(de)正常結果，但直接施加在(zai)光纖上(shang)的(de)任何過(guo)大(da)應力都代表(biao)著嚴重(zhong)的(de)問題。產品可靠性存(cun)在(zai)風險，因此IL值@ 1550對于監視和排除故障尤為(wei)重(zhong)要。
即使出現“減小彎曲半徑”的光纖，在1550時測試所有產品也是一種很好的做法。這樣做可能會發現嚴重的產品缺陷，特別是在光纖在配線柜（例如暗盒或光纖配線(xian)柜內）布設的(de)(de)(de)產(chan)(chan)品(pin)中或功(gong)能(neng)區扇出過渡）。如果您(nin)的(de)(de)(de)產(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)插入損耗1550明顯高于1310，則(ze)您(nin)的(de)(de)(de)產(chan)(chan)品(pin)很可能(neng)承受了光(guang)纖(xian)的壓力，因(yin)此您需要了解原因(yin)。
