您每天都可以與我們聯系，以獲取有關光纖組件測試和檢查支持的資源。IL / RL結果下降是我們提供的技術專長，用于建立嚴格的生產控制。隨著我們制定定制的程序準則來評估測試光纖的狀況，軌道使用情況以及合理的更換時間表，許多有用的提示變得突出。
為了快速參考，我們整理(li)了一些技巧，可以(yi)幫助(zhu)您改善連接過程。
提示1：參(can)考后檢查測試設置的穩定性(xing)
執行(xing)IL參(can)考后，將測試導線直接連接到功率計，并在工作臺上稍微移動(dong)參(can)考光纖時觀察IL值。功率電平變化(hua)應該(gai)很小（最多0.00 +/- 0.02左右(you)）。如果在移動參考光纖(xian)時功率水平發生變化，則測試布局中可能存在問題（彎曲/擠壓光纖或光纖適配器連接不良等）。
提示2：確定(ding)高損耗原(yuan)因
較高(gao)的(de)(de)波長(chang)對(dui)光(guang)纖(xian)過度彎(wan)曲造成(cheng)的(de)(de)損(sun)耗更敏感。較低的(de)(de)波長(chang)對(dui)適配器中(zhong)光(guang)纖(xian)未對(dui)準(zhun)造成(cheng)的(de)(de)損(sun)耗更敏感。如果您正在測試(shi)SM光纖并且無法達到IL規格，請查看1310nm和1550nm處的IL結果。在理想環境中，兩個結果都應該“相等”（大約在0.02 dB之內）。如果1550的結果遠高于1310，則造成損耗的主要原因可能是組件中某處的纖維過度彎曲。如果1310結果遠高于1550，則造成損耗的主要原因可能是光纖連接器配合處光纖與光纖之間的對準不良。
提(ti)示3：在連(lian)接之前，確保(bao)密封墊圈干燥
酒精通(tong)常(chang)在配(pei)(pei)對之(zhi)前用于清潔(jie)端面(mian)。如果(guo)端面(mian)上(shang)殘留任(ren)何液(ye)體，則在與另一個(ge)連接器配(pei)(pei)合使用時，它可(ke)以(yi)充當“折(zhe)射率(lv)匹配(pei)(pei)”的液(ye)體，從(cong)而(er)導致(zhi)RL值異常(chang)高(gao)。為了確(que)保獲得準(zhun)確(que)的RL結(jie)果(guo)，請確(que)保端面(mian)清潔(jie)并在配(pei)(pei)對前干燥（注意：這是(shi)始終建議使用99％+的純(chun)酒精進行清潔(jie)的另一個(ge)原因，因為較低的純(chun)度包含較高(gao)百(bai)分比的水(shui)，并且(qie)不會很快蒸發）。
提示4：不可(ke)能出現IL負值
當(dang)您將光插入(ru)光(guang)纖組件的(de)一端(duan)時，另一側(ce)總會有更少的(de)光出射(she)-總是有一定量的(de)光損失-無源光纖組件不可能發光。如果(guo)您在(zai)光(guang)纖組(zu)件(jian)(jian)上測(ce)試(shi)IL，結果(guo)為負值（意味著，您(nin)得(de)到的(de)組(zu)件(jian)(jian)OUT的(de)光比(bi)測(ce)試(shi)導線所輸入(ru)的(de)更多），則(ze)您(nin)的(de)設(she)置參考無效，需要歸(gui)零再次。
提示5：保護探測器
為了(le)獲(huo)得準確(que)的(de)(de)(de)IL結果(guo)，至關(guan)重要的(de)(de)(de)是(shi)，測(ce)試(shi)系統的(de)(de)(de)光電探測(ce)器(qi)必須干凈且無刮擦(ca)或其他此類缺(que)陷。應當定期檢(jian)查檢(jian)測(ce)器(qi)的(de)(de)(de)表面，并(bing)根據需要進行(xing)清(qing)潔(jie)（用5倍放(fang)大倍數(shu)的(de)(de)(de)放(fang)大鏡檢(jian)查就足夠了(le)）。但是(shi)在清(qing)潔(jie)時(shi)要非常小心，請參閱測(ce)試(shi)系統用戶手冊以了(le)解正確(que)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)器(qi)清(qing)潔(jie)方法-一些檢(jian)測(ce)器(qi)表面具有抗(kang)反射涂層膜，如果(guo)用酒精(jing)清(qing)潔(jie)，則(ze)該(gai)膜會(hui)降解。
損壞的光電探(tan)測(ce)器可(ke)能(neng)會導致主要的測(ce)試問題，并且維(wei)修起來非常昂貴且耗(hao)時(shi)。請務(wu)必與(yu)設(she)備制造商聯系，以進(jin)行推薦的光電探(tan)測(ce)器保養。
提示6：測試(shi)線質量
正如(ru)他(ta)們所說，“一(yi)條鏈是(shi)最強的(de)(de)環節(jie)，卻是(shi)最薄弱(ruo)的(de)(de)環節(jie)”。對于IL和RL測(ce)試(shi)系統，最薄弱(ruo)的(de)(de)環節(jie)通常是(shi)測(ce)試(shi)線(xian)。即使(shi)使(shi)用(yong)(yong)最好的(de)(de)信(xin)號源和功率(lv)計，如(ru)果您的(de)(de)測(ce)試(shi)線(xian)質量較差，則IL結果的(de)(de)準(zhun)確性和可(ke)重(zhong)復(fu)性也很差。測(ce)試(shi)線(xian)的(de)(de)芯對套圈(quan)外徑同(tong)心度對于獲(huo)得(de)準(zhun)確且可(ke)重(zhong)復(fu)的(de)(de)IL結果至關重(zhong)要-尤其是(shi)在測(ce)試(shi)單模時，因為芯體很小（?8um），即使(shi)很小的(de)(de)離心率(lv)也會導(dao)致明顯(xian)的(de)(de)芯體偏(pian)移(yi)與DUT配合使(shi)用(yong)(yong)時，會給(gei)出(chu)錯誤的(de)(de)IL測(ce)量值。
測試導線(xian)套圈應具有最(zui)高質量和最(zui)嚴格的尺(chi)寸公(gong)差，并且應拋光以(yi)達到(dao)或超過幾何和外觀的典型(xing)行(xing)業標準，并且芯對(dui)(dui)套圈的外徑偏(pian)心(xin)值(zhi)為(wei)0.5um或更少。（同樣(yang)，對(dui)(dui)于較(jiao)(jiao)小的纖(xian)芯尺(chi)寸，這比較(jiao)(jiao)大(da)的纖(xian)芯尺(chi)寸更為(wei)重要，因為(wei)對(dui)(dui)于較(jiao)(jiao)小的纖(xian)芯纖(xian)維，任何偏(pian)心(xin)效果都會更加明顯(xian)）。當其他一切看起來不錯，但結(jie)果似乎仍然不正確(que)時，請考慮存儲并使(shi)用(yong)主(zhu)光纖測(ce)(ce)試測(ce)(ce)試線。
提示(shi)7：測(ce)試前設備(bei)連接器的檢(jian)查和清潔
測試(shi)之前，在儀器的動態范圍內(nei)，設備接口連接器的“空中參(can)考(kao)”回波損(sun)耗(hao)讀數至少應(ying)為65 dB，這一點(dian)很重(zhong)要。MAPS通常為-75及(ji)以下。檢查過程取決于(yu)設備制造。致電我(wo)們了解(jie)詳情(qing)。
此(ci)外，必(bi)須遵(zun)守使用(yong)前(qian)的“檢查和清潔”舊(jiu)規定。設備連接(jie)器(qi)上的灰塵(chen)和光纖(xian)端面損(sun)壞會影響讀數(shu)，并可能(neng)損(sun)壞DUT。合適的探頭范(fan)圍和尖端是絕對的，因為大多數(shu)連接(jie)器(qi)接(jie)口都不容易接(jie)近。您不能(neng)僅依靠棉簽清潔。
您是(shi)否有關于(yu)測試和檢查的特定問題？
我(wo)們(men)(men)在這里為您提供(gong)(gong)幫(bang)助(zhu)(zhu)！向我(wo)們(men)(men)發送您的問(wen)題，我(wo)們(men)(men)將盡力(li)(li)提供(gong)(gong)指導。嘉富致(zhi)力(li)(li)于幫(bang)助(zhu)(zhu)您制(zhi)造世界上最好的光纖組件。
